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帕剌斯SMPS扫描电迁移率粒径谱仪

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  • 发布日期:2024-01-22 15:33
  • 有效期至:长期有效
  • 商机区域:全国
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详细说明
 帕剌斯SMPS扫描电迁移率粒径谱仪适用于高气溶胶浓度的Palas®通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两种版本。U-SMPS带有短分类柱(1700型),特别适合2-400nm范围内的*精度粒度分布测量。Palas®U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO15900中定义称为差动迁移率分类器(DEMC),也称为差动迁移率分析仪(DMA)],根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后,在下游的Charme®气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。
气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是,这种方法需要很高的成本。因此,其适用性被限制于高气溶胶浓度(例如,燃烧过程或颗粒发生器的下游)。可以通过物理参数直接追溯每时间单位(流量)的电荷测量值。其结果是,此方法主要用作凝结粒子计数器(例如UF-CPC)校准期间的参考。
U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描,或者多在128个尺寸通道中执行扫描,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(丰富的统计和平均值计算)和导出功能。
U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口连接到计算机或网络。Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和气溶胶静电计。
U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要,特别是对于校准。所有组件都需通过严格的质量保证测试,并在内部组装。
SMPS扫描电迁移率粒径谱仪
https://www.chem17.com/st465083/list_2191390.html
https://www.chem17.com/st465083/product_35551753.html
原文链接:http://www.yzyx.net/shangji/show-17752.html,转载和复制请保留此链接。
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